Benchtop Scanning Acoustic Microscope

Az AMX X-SAM M-51 egy új rendszer, amelyet a teljesítményelektronikai ipar minőségellenőrzési feladataihoz fejlesztettek ki.

Egy nagy pontosságú akusztikus mikroszkóp, amely intuitív szoftverfelülettel rendelkezik, így könnyen használható kutatás-fejlesztési tevékenységekhez, valamint a gyártás során végzett napi mintavételes ellenőrzésekhez.

Az M-51 laboratóriumi és tisztatéri környezetre lett tervezve. Egyszerűen használható K+F teszteléshez és elemzéshez, valamint minőségellenőrzéshez szinterelés után vagy más kötési (bonding) folyamatokat követően.

Az alapegység egy biztonsági burkolattal ellátott keretből, monitorból, valamint egy testre szabott PC-ből áll, amely integrált rendszert tartalmaz a szkennelő akusztikus mikroszkópos (SAM) elemzésekhez.